Cover of Microscopia electrónica de barrido (SEM) en suelos y otros materiales atlas de imégenes
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Microscopia electrónica de barrido (SEM) en suelos y otros materiales atlas de imégenes

by Juan Manuel Martín García, Rafael Delgado Calvo-Flores, A. Molinero García, Rocío Márquez Crespo

Language
Spanish
Published
2025
Publisher
Editorial Universidad de Granada, Campus Universitario de Cartuja
Pages
578
ISBN
9788433872227

Subjects