Portada de Microscopia electrónica de barrido (SEM) en suelos y otros materiales atlas de imégenes

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Microscopia electrónica de barrido (SEM) en suelos y otros materiales atlas de imégenes

de Juan Manuel Martín García, Rafael Delgado Calvo-Flores, A. Molinero García, Rocío Márquez Crespo

Idioma: Español
Publicación: 2025
Editorial: Editorial Universidad de Granada, Campus Universitario de Cartuja
Páginas: 578
ISBN: 9788433872227

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